Retro Chip Tester Pro vom 8Bit-Museum.de (vormals "SRAM/DRAM-Tester")

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    Zitat

    Ein hochinnovatives, multifunktionelles Gehäuse aus 100% recycelten Pflanzenfasern


    Das Gehäuse ist super!

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    Zitat von Kaoala

    CuriousMarc hat sich auch einen RCT gekauft; We attend the Vintage Computer Festival (VCF East 2024) (youtube.com) @13:48

    Echt jetzt?

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    Einmal editiert, zuletzt von slabbi ()

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    Guten Abend


    Anbei noch ein paar Bilder vom realen Einsatz des RCT,


    Überprüfung von Piggy Pack Bausteine aus dem IBM Mainboard Version 1


    Endziel sieht so aus, aus den unterschiedlichsten teildefekten wieder jeweils einen funktionsfähigen Baustein zu generieren,


    um den Ablauf zu verifizieren habe ich noch zusätzlichen eine funktionsfähige Baugruppe zerlegt, um dann Bottem /Top einzeln zu überprüfen

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    Hallo Slabbi!


    Bei der Reparatur eines alten Terminal konnte ich ein defektes IC vom Typ N8T28 identifizieren.

    Der Bustreiber funktioniert ein paar Sekunden bevor er wohl durch Erwärmung aussteigt.

    Mit der Wärmebildkamera ließ sich eine Temperatur im Betrieb von ca 50°C messen. Ab üngefähr

    42°C bekommt er Probleme.

    Läßt sich das IC im RCT unter Belastung testen?


    Gruß

    Axel

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    5,2V, den Test mehrfach durchlaufen lassen, notfalls extern erwärmen.

    ::solder::Ich "darf" beruflich basteln...

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    In der Config den Loop Modus auf Max (11) stellen, dann läuft dieser unendlich bis Tastendruck. Den Logik-Test mit langem Druck auf OK starten.

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    Danke!

    Probiere morgen mit dem defekten IC mal aus.


    Hab mir mal das Video von der VCF East mal angeschaut. Wie auf der CC ;)

    Und ja, Marc hat sich wohl einen RCT zugelegt, wie er sagt. (Ab Minute 13 ff. im Video)

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    Zitat von fishermansfriendtoo

    Und ja, Marc hat sich wohl einen RCT zugelegt, wie er sagt. (Ab Minute 13 ff. im Video)

    Das witzige an der Sache: Er setzt demnächst meinen RCT ein und dabei hätte ich gerne sein Test-Equipment zur Verfügung. :)

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    Wäre es eigentlich auch möglich (rein theoretisch) mit dem RCT die Gatelaufzeit von Logikbausteinen zu messen, um 74LS und 74F z.B. zu unterscheiden oder ist der zu langsm dafür?

    ::solder::Ich "darf" beruflich basteln...

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    Ist leider definitiv zu langsam.

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    Ich bin auf der Suche nach alten ICs an ein paar TMS09725 gelangt.

    Möchte jemand einen Taschenrechner daraus aufbauen?


    Und ein paar UB8820 waren auch mit dabei.


    Jemand Interesse, dann bitte per E-Mail melden.

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    Dachte ich mir schon. Man könnte die Zeit extern vergleichen, aber das würde wohl immer nur für ein Gatter in einem Chip laufen oder ein komplexes Board erfordern.

    Man gibt ein Signal an den Testchip-Gateeingang und ein 74AS Gate (1,5ns). Die Ergebnisse kommen in sich sperrendes Flipflop (Quiz-Buzzer-Schaltung). War der Testchip langsamer, nimmt man ein 2. 74AS Gate usw.


    Fehlt ja nur noch die Möglichkeit einen Bauteiltester (kein Analog) und einen TL866 Programmer (keine EPROM Spannung) zu ersetzen und man bräuchte nichts anderes mehr ...


    Was ich noch vermisse wäre USB C und einen Ein/Ausschalter.

    Übrigens: coole MikroUSB-Buchse, sowas auch noch nicht gesehen

    ::solder::Ich "darf" beruflich basteln...

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    Die MicroUSB Buchse gibt es auch als USB-C Buchse nur für die 5V Spannungsversorgung.


    Als THT kann die von jedem gelötet werden. Es gibt auch eine SMD Variante bei der die Pins nach hinten herausgelegt sind. Die nehme ich eigentlich sogar noch lieber, denn wenn man die um 90 Grad biegt, entspricht die der THT Variante, die Pins sind aber etwas länger.

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    Es gibt jetzt ein kleines User-Projekt, was auf dem Beispielcode basiert.

    Damit können Dallas DS12887 getestet werden (u.a. die RTC, wird ausgelesen und der Takt gemessen).

    Download von der Firmware-Seite meiner Homepage.

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