Allgemeine Diskussion über IC-Tester

  • PS: slabbi der Tester ist echt der Hit! Ich hab gerade wieder RAMs für meine Amiga Aufrüstungen getestet und konnte sie dann beruhigt einlöten... Ist ein Gefühl wie in der Bacardi Werbung ;0)

    er testet aber die rams nicht in echtzeit. das kann der atmega so garnicht. ist unmöglich.


    so würde ich nie die bauteile und erstrecht die rams einlöten.


    hallo slabbi mit welcher geschwindigkeit kannst du die bausteine denn testen,

    was schaffst du, mit allen tricks und kniffen?

    welche mindestverzögerungszeit kannst du da garantieren?


    damit es bei den leuten kein missverständniss gibt und die glauben,

    das die ics in echtzeit und entsprechend derer datenblätterdaten und der pegelmöglichkeiten getestet werden.


    die ics werden garantiert nach ihrer logischen funktion getestet.

    dank der vielen mühsamm erstellten tabellen vom slabbi , für die inzwischen so vielen ics.

    Chapeau! ich weiss was das für eine sisyphusarbeit ist.


    ob aber die verzögerungszeiten, die pegel, die treiberleistungen stimmen,

    geht mit diesem minimalen hardwareaufwand leider nicht.


    um z.b. einen ganz normalen 7400 zu testen, würde man maximal 1nS erkennungszeit benötigen.

    da der 7400 nur ca. 10nS benötigt um selbst logisch zu reagieren.

    und die neueren typen sind noch viel schneller als der fast 50 jahre alte 7400.


    der tester, nun erweitert als programmer, für alte eproms, da strahl mein herz,

    da wird nun auch vielen geholfen, da neue programmer es nicht mehr können.

    und uns geht es ja um den erhalt der alten schätzchen ;)


    gruß

    helmut

  • Ich habe das noch nie geglaubt. Wie kommst Du bitte darauf?

    Ich halte es auch für falsch, dies in Echtzeit zu messen.

    Der Test sollte lieber langsam, aber dafür zuverlässig sein.


    Und garantieren kann man dies beim Tester mit uralten IC's nie.

    Da muss man auch mal Realtisch sein.

  • er testet aber die rams nicht in echtzeit. das kann der atmega so garnicht. ist unmöglich.

    Danke axorp , das ist mir sehr klar :0)


    Meine einzige Alternative wäre die Chips aus meiner Bastelkiste ungetestet zu verwenden, vorallem bei den RAMs und Logic ICs, die ich aus diversen Spenderboards gepflückt habe, habe ich dank RCT schon im Vorfeld 3 gänzlich defekte Chips aussortieren können :0)


    Ob die, die den RCT Test bestehen, dann auch unter Realbedingungen im jeweiligen Gerät (und auf Dauer auch unter termischer Belastung) funktionieren? Das steht eh in den Sternen :0)


    Auch neu Kaufen der Chips ist keine Garantie, so war der allereste Chip, den ich im RCT getestet habe (nachdem ich ihn endlich fertig zusammengebastelt hatte) gleich ein defektes RAM, welches ich aber als Neuware erstanden habe (wollte ja einen positiven Testlauf sehen ;0)) Nach dem ersten Schock (hab ich irgendwaas falsch gelötet???????) kam die Erleichterung => Nur der Chip tatsächlich hinüber...


    Lg. TOM:0)

  • er testet aber die rams nicht in echtzeit. das kann der atmega so garnicht. ist unmöglich.

    Was ist Echtzeit?


    Ein 16MHz ATMega kann bestimmt so schnell zugreifen wie ein 1MHz System.

    Da braucht es noch nicht mal Assembler.

    In Assembler geht das noch deutlich höher, so man das will und braucht.



    Ich sag mal so, mir persönlich ist nicht so wichtig zu testen, ob der Chip das Timing einhalten kann.

    Das wird er in der Regel sowieso tun, wenn er funktioniert.


    Mir ist wichtig, ob er Informationen speichert und die auch behält solange der Refresh Zyklus läuft.

  • Was ist Echtzeit?

    Der Zugriff auf die Bausteine erfolgt in der Schaltung nun mal in Hardware. Das Timing liegt im Nanosekundenbereich. In den Ein- und Ausgangsstufen sitzen Transistoren. Das ist nun mal Analogtechnik. Da spielen Pegel und Flanken eine wichtige Rolle.

    Der Tester simuliert den Zugriff in Software. Keine Ahnung, wie du das in Assembler machen willst.


    Ich sag mal so, mir persönlich ist nicht so wichtig zu testen, ob der Chip das Timing einhalten kann.

    Das wird er in der Regel sowieso tun, wenn er funktioniert.

    Mir ist wichtig, ob er Informationen speichert und die auch behält solange der Refresh Zyklus läuft.

    Genau das hat axorp doch geschrieben. Der Tester macht einen logischen Test und keinen elektrischen.

    Eine Ein- oder Ausgangsstufe, die nicht mehr nach Spezifikation funktioniert, wird aber ggf. nicht erkannt.


    Und solange einem das bei der Verwendung des Tester klar ist, ist alles gut. Die Bemerkung von paranoid64 , dass man einen Chip gründlicher testen kann, wenn man in langsamer testet, zeigt aber, dass das einigen Anwendern eben nicht klar ist.


    Deswegen finde ich es legitim, nochmal auf die Grenzen des Testers hinzuweisen. Natürlich kann es hilfreich sein, wenn man schon mal weiß, dass ein Chip logisch nicht mehr funktioniert. Den kann man schon mal aussortieren. Aber ob ein "gut" getesteter Chip dann elektrisch in der Schaltung funktioniert, das weiß man leider nicht. Das kann man nur vermuten.

    • i-Telex 7822222 dege d

    • technikum29 in Kelkheim bei Frankfurt

    • Marburger Stammtisch

    Douglas Adams: "Everything, that is invented and exists at the time of your birth, is natural. Everything that is invented until you´re 35 is interesting, exciting and you can possibly make a career in it. Everything that is invented after you´re 35 is against the law of nature. Apply this list to movies, rock music, word processors and mobile phones to work out how old you are."

    2 Mal editiert, zuletzt von detlef ()

  • Der Test sollte lieber langsam, aber dafür zuverlässig sein.

    Das schließt sich gegenseitig aus.

    Der Test muß mindestens so schnell sein, wie im Zielsystem, um zuverlässig sein zu können.

    Sorry, sehe ich nicht so. Wenn das Ergebnis mit z. B. 1MHz schei... ist, ist es Erstrecht für schneller aufgaben nicht zu Gebegrauchen.

    Einmal editiert, zuletzt von paranoid64 ()

  • Deswegen hat slabbi die Lastwiderstände am Nulkraft-Sockel auf 470 Ohm herunter gesetzt, um die Pegel der Prüflinge mit 4-5mA zu testen. Das hat zur folge, wenn ein Chip die Standard-Pegel nicht mehr erreicht (z.B. weil er mehr Strom am Eingang benötigt) , wird er als defekt erkannt, obwohl er logisch noch in Ordnung sein könnte. So hat er es in dem Aktuellen ReadMe auf Seite 49 geschrieben. Der RCT ist demnach auch in der Lage zu langsame Chips zu erkennen, wenn die Signale nicht in einer bestimmten Maximal-Zeit stabil den Erwartungen entsprechend vorhanden sind.

  • Steht alles im Handbuch. Ich garantiere auch keine genauen Timings. Wie du schon schriebst, das ist mit einem ATmega nicht möglich.


    Die verwendeten Timings entsprechen denen der langsamsten ICs eines Typs, also z.B. 250ns. Der ATmega lässt eine Auflösung von 62.5ns zu, d.h. ich kann die 250ns recht gut einhalten. Wenn im Datenblatt ein IC 20ns zwischen einen Signalwechsel schaffen würde, sind es halt 62.5ns. Aber noch einmal: Es werden vom RCT keine Performance-Tests durchgeführt, d.h. ob ein IC seine Spezifikation noch bis zur Grenze einhält. Es wird primär die Speichermatrix, der Adressdecoder, etc. getestet.


    Es kann natürlich der Effekt auftreten, dass ein 150ns DRAM mit Alterungseffekten plötzlich 250ns Zugriffszeit benötigt und trotzdem noch als "gut" getestet wird. In einem 6MHz Rechner wird der vermutlich nicht mehr funktionieren, in einem 4MHz vielleicht doch noch. Das sind aber Grenzfälle. Wer das getestet haben möchte, muss halt mehrere tausend Euro ausgeben (selbst bei 1000 EUR für einen Chipmaster bekommt man das nicht geboten).


    Flanken auf 1ns genau zu testen ist technisch nur mit sehr viel Aufwand möglich und extrem teuer (vermutlich willst du dann auch noch die Pegel kontinuierlich überwachen). Wenn du nach Industrietester mit dieser Auflösung guckst bist du gleich mehrere 10K EUR los. Völlig unnötig für unsere Zwecke.


    Bei Speicher sind nach meinen Erfahrungen die häufigsten Fehler defekte Adressdekoder, eine defekte Speichermatrix oder defekte Ausgangstreiber, weniger eine langsamere Elektronik.


    Wenn du mehr wissen willst, sieh bitte einmal in das Handbuch. Da gibt es extra ein eigenes Kapitel für, was getestet werden kann und was nicht. Leider schweigen sich die ganzen anderen Tester zu diesem Thema aus.

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  • Der Test sollte lieber langsam, aber dafür zuverlässig sein.

    Das schließt sich gegenseitig aus.

    Der Test muß mindestens so schnell sein, wie im Zielsystem, um zuverlässig sein zu können.

    Je nachdem, was man unter langsam versteht.


    "Langsam" im Sinne von sehr langsamen Zugriffszeiten von mehreren Millisekunden pro Zelle, wie es viele Open Source Tester machen, ist nicht optimal. Es sollte schon irgendwo realistisch sein. Ob es jetzt 150ns, 200ns oder 250ns letztendlich sind, ist eigentlich egal.


    "Langsam" m Sinne von einem kompletten Testdurchlauf, ist durchaus sinnvoll. Es gibt einige Projekte, da wird einmal eine 0, einmal eine 1 geschrieben, fertig. Damit ist der Test schnell durch. Ist aber für die Tonne. Pattern Tests habe ich zwar auch drin, die haben auch ihre Berechtigung, aber einen defekten Adressdekoder kann man damit nicht finden. Hier sind andere spezielle Tests notwendig, die recht langsam sind, dafür aber gründlich und auch Bitflips etc. erkennen. Wer möchte, kann diese beim RCT einschalten.

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  • Deswegen hat slabbi die Lastwiderstände am Nulkraft-Sockel auf 470 Ohm herunter gesetzt, um die Pegel der Prüflinge mit 4-5mA zu testen. Das hat zur folge, wenn ein Chip die Standard-Pegel nicht mehr erreicht (z.B. weil er mehr Strom am Eingang benötigt) , wird er als defekt erkannt, obwohl er logisch noch in Ordnung sein könnte.

    Klar, das sind Maßnahmen um die Tests zu verbessern.


    Aber das spezifierte Timing wird eben nicht erreicht. Wenn ich einen instabilen RAM-Baustein habe, der in der Schaltung sprodisch Fehler zeigt, weil er das spezifizierte Timing gerade eben nicht schafft, dann wird man diesen Fehler höchstwahrscheinlich mit dem Tester nicht sehen.


    Bei Chinaware wird sehr oft umgelabelt. Da werden dann billige 250ns Bausteine also teurere 120ns Bausteine verkauft (nur mal so ein ausgedachtes Beispiel). Genau das, kann man mit dem Tester nicht feststellen, wenn die 120ns beim Test nicht erreicht werden.


    So einen ähnlichen Fall hatte ich gerade, wo China 28C64-15 in einer Schaltung nicht funktionierte, aber in einer anderen Schaltung, wo nur 250ns geforderte waren, keine Probleme hatte.

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  • Deswegen finde ich es legitim, nochmal auf die Grenzen des Testers hinzuweisen. Natürlich kann es hilfreich sein, wenn man schon mal weiß, dass ein Chip logisch nicht mehr funktioniert. Den kann man schon mal aussortieren. Aber ob ein "gut" getesteter Chip dann elektrisch in der Schaltung funktioniert, das weiß man leider nicht. Das kann man nur vermuten.

    Leider findest du solche Hinweise bei den ganzen Bastellösungen überhaupt nicht und auch bei den teuren, kommerziellen Testern, kenne ich keinen einzigen, der sich dazu im Handbuch äußert. Ein Tester ist ein Werkzeug, von dem man, wie bei jedem anderen Werkzeug, wissen muss, wie man es einsetzt.

    Ich hatte letztens eine Anfrage, ob sein Tester defekt wäre, weil es würden nur ca. 3V an einem Eingang anliegen. Es hatte mit einem Multimeter eine gepulste Spannung gemessen. Na ja...

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    2 Mal editiert, zuletzt von slabbi ()

    • Offizieller Beitrag

    "Langsam" im Sinne von sehr langsamen Zugriffszeiten von mehreren Millisekunden pro Zelle, wie es viele Open Source Tester machen, ist nicht optimal.


    "Langsam" m Sinne von einem kompletten Testdurchlauf, ist durchaus sinnvoll.

    Genau so sehe ich das auch.

    'Langsam' weckte bei mir halt nicht die Assoziation mit einem Test, der lange dauert, weil er möglichst vollständig testet, sondern mit einem, der zu langsame Timings hat.

  • "Langsam" im Sinne von sehr langsamen Zugriffszeiten von mehreren Millisekunden pro Zelle, wie es viele Open Source Tester machen, ist nicht optimal. Es sollte schon irgendwo realistisch sein. Ob es jetzt 150ns, 200ns oder 250ns letztendlich sind, ist eigentlich egal.

    Ne, das ist gerade nicht egal. Dann da trennt sich die Spreu vom Weizen.


    "Langsam" m Sinne von einem kompletten Testdurchlauf, ist durchaus sinnvoll.

    Das ist aber in meinem Sprachgebrauch nicht "langsam" sondern "gründlich" ;)

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  • Leider findest du solche Hinweise bei den ganzen Bastellösungen überhaupt nicht und auch bei den teuren, kommerziellen Testern, kenne ich keinen einzigen, der sich dazu im Handbuch äußert.

    Von einem professionellen Tester würde ich erwarten, dass er einfach gegen die Spezifikation des Chips testet.

    Also mit dem spezifizierten Timing in dem spezifizierten Spannungs- und Strombereich.


    Das erfordert einigen Aufwand bei der Messtechnik. Ich denke mir, sowas steht nur bei den Herstellern.


    Ein Tester ist ein Werkzeug, von dem man, wie bei jedem anderen Werkzeug, wissen muss, wie man es einsetzt.

    Ja, genau. Deswegen finde ich deinen Tester ja auch absolut sinnvoll. Man muss eben nur wissen, was er testet und was nicht.

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  • Wie slabbi auch geschrieben hat, wäre die schnellste Abfrage mit 62,5ns machbar (Prüfmuster schreiben, Ergebnismuster Lesen), erfordert aber einen erheblichen Mehraufwand, die Prüfroutinen zu implementieren. Das I-Tüpfelchen wäre natürlich, wenn das Test-Timing in 62,5ns-Schritten bei manchen Chips (z.B. D-RAM, S-RAM, etc.) einstellbar wäre, dann würde dein falsch gelabelter 28c64-15 vielleicht mit viel Glück etwas eher auffallen, aber dem gegenüber steht auch der extreme Aufwand das ganze handoptimiert in Assembler zu implementieren. Zudem würden auch wertvolle Schreib-Zyklen bei z.B. einem EEProm verloren gehen. Wenn solche Dinge noch nicht mal in den sogenannten "Profi-Geräten" drin ist, dann ist das in einem erstklassigen Hobby-Projekt auch kein muss... ;) ... und mit dem RCT habe ich auch schon einige defekte Chips finden können. Damit hat er seine Aufgabe für mich schon perfekt erledigt... :)

  • Wenn solche Dinge noch nicht mal in den sogenannten "Profi-Geräten" drin ist, dann ist das in einem erstklassigen Hobby-Projekt auch kein muss... ;) ... und mit dem RCT habe ich auch schon einige defekte Chips finden können. Damit hat er seine Aufgabe für mich schon perfekt erledigt... :)

    Hab ja auch nicht gefordert, dass er das kann.


    Aber rein interessehalber: Welches Profigerät meinst du, das das Timing nicht testet?

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  • Aber rein interessehalber: Welches Profigerät meinst du, das das Timing nicht testet?

    Wenn eine Firma wie Gwinstek eine auf den ersten Blick professionell wirkende Geräte wie den GUT-6000B anbietet, dann hätte ich schon gern ein paar mehr Eckdaten präsentiert, ansonsten würde ich so ein Gerät schon bei einer Datenblatt-Prüfung sofort wieder aussortieren... weil ich davon ausgehe, das das Gerät das nicht kann.

  • Wenn solche Dinge noch nicht mal in den sogenannten "Profi-Geräten" drin ist, dann ist das in einem erstklassigen Hobby-Projekt auch kein muss... ;) ... und mit dem RCT habe ich auch schon einige defekte Chips finden können. Damit hat er seine Aufgabe für mich schon perfekt erledigt... :)

    Hab ja auch nicht gefordert, dass er das kann.


    Aber rein interessehalber: Welches Profigerät meinst du, das das Timing nicht testet?

    Da gibt es viele, z.B. den Chipmaster (600 EUR)

    http://www.abielectronics.co.u…cuments/CMCP%20manual.pdf

    oder den allseits beliebten TL-866 oder GUT-6000B (1300 US$).


    Es ist aber egal, welchen Tester du in dieser Preisklasse nimmst, es testet keiner gegen die Specs. Es müsste dann der genaue IC-Typ eingegeben werden und der Tester müsste die Werte von zig tausend Datenblättern vorhalten.

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    Einmal editiert, zuletzt von slabbi ()

  • Wenn eine Firma wie Gwinstek eine auf den ersten Blick professionell wirkende Geräte wie den GUT-6000B anbietet, dann hätte ich schon gern ein paar mehr Eckdaten präsentiert, ansonsten würde ich so ein Gerät schon bei einer Datenblatt-Prüfung sofort wieder aussortieren... weil ich davon ausgehe, das das Gerät das nicht kann.

    Keine Ahnung, wofür man sowas in der Industrie überhaupt braucht. Vor allem die beworbenen automatische Chip-Erkennung. :nixwiss:

    Mir fällt da kein sinnvoller Einsatzzweck ein.

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  • oder den allseits beliebten TL-866.

    Naja, komm. Das ist ein Spielzeug (was den Chip-Test angeht) und kostet 60 Euro. Wenn das der Maßstab für Professionalität sein soll. ;)


    Und dieser Chipmaster ist doch auch eher ein Hobbygerät, so wie das Ding aussieht.


    Und wie bereits geschrieben fällt mir in der Industrie überhaupt kein Einsatzzweck ein.

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  • oder den allseits beliebten TL-866.

    Naja, komm. Das ist ein Spielzeug (was den Chip-Test angeht) und kostet 60 Euro. Wenn das der Maßstab für Professionalität sein soll. ;)

    Für die Programmierung von Kleinserien ist der durchaus einsetzbar (z.B. durch die Erzeugung von Seriennummern etc.) und wird auch durchaus von Nicht-Hobbyisten eingesetzt.

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  • Keine Ahnung, wofür man sowas in der Industrie überhaupt braucht. Vor allem die beworbenen automatische Chip-Erkennung. :nixwiss:

    Mir fällt da kein sinnvoller Einsatzzweck ein.

    Die könnte nur dann Sinnvoll sein, wen jemand "Security by Obscurity" betreibt, und die Chip-Beschriftung abschleift, Ich aber schon weis, das die Stromversorgung des ICs auf nichts außergewöhnliches hinweist und die Vermutung habe, das das IC einen Sprung in der Schüssel hat...

  • oder den allseits beliebten TL-866.

    Naja, komm. Das ist ein Spielzeug (was den Chip-Test angeht) und kostet 60 Euro. Wenn das der Maßstab für Professionalität sein soll. ;)

    Für die Programmierung von Kleinserien ist der durchaus einsetzbar (z.B. durch die Erzeugung von Seriennummern etc.) und wird auch durchaus von Nicht-Hobbyisten eingesetzt.

    Ich hatte geschrieben "was den Chip-Test angeht". :rolleyes:


    Ob ein TL-866 irgendwo tatsächlich in einer Fertigung eingesetzt wird, kann ich nicht beurteilen. In den Firmen, in denen ich beschäftigt war, wäre das nicht in Frage gekommen. Die Kunden hätten uns beim ersten Audit rausgeschmissen.


    Auch so ein Chip-Tester wäre bei einem Audit gar nicht gut angekommen. Denn dann stellt sich sofort die Frage, ob man nicht durch ESD-gerechtes Handling und Lagerung und vor allem durch geeignete Auswahl der Lieferanten sicherstellen kann, dass die verarbeiteten Chips einwandfrei sind.

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    PS: das Gerät liegt bei ca. 1000€ ... das ist auch nicht gerade preiswert mit so einem dürftigen Datenblatt...

  • Ich habe das noch nie geglaubt. Wie kommst Du bitte darauf?

    Wie kommst Du bitte darauf?

    Ich halte es auch für falsch, dies in Echtzeit zu messen.

    Wie kommst Du bitte darauf?

    Der Test sollte lieber langsam, aber dafür zuverlässig sein.

    Wie kommst Du bitte darauf?

    Und garantieren kann man dies beim Tester mit uralten IC's nie.

    Da muss man auch mal Realtisch sein.

    Wie kommst Du bitte darauf?


    du möchtest doch die teile dann benutzen und verbauen?

    und die werden doch dann in echtzeit in einer schaltung benutzt.


    wie schnell sie in der schaltung wirklich benutzt werden, liegt doch an der schaltung?


    nie und nimmer, kannst du doch glauben, das ein langsammer test besser ist

    und dann auch ausreicht. da träumst du.

  • Hallo,

    jetzt muss ich mal den Mod bitten etwas aufzuräumen und einen neues Thema aufzumachen, z.B. "Allgemeine Diskussion über IC-Tester". Im Grunde kann da alles von #1566 an hin verschoben werden.


    Hier würde ich gerne Support für den RCT geben...


    Vielen Dank.

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  • oje, da habe ich etwas bewirkt, was ich eigentlich nicht so wollte.

    da möchte ich auch die nachrichten, der letzten stunden, mir nicht einzeln durchlesen.

    sonnst habe ich immer den extremen zwang, zu antworten und unlogische und falsche sachen klarzustellen.


    so reicht wohl nur meine antwort auf die von oben #1.583 die gelesen zu haben.

    und es wird kein elektronik schaltungsentwickler und kein platinenfertiger mir wohl widersprechen.


    bitte, wie bereits von anderen geschrieben, ein echter tester kostet ein vermögen,

    weil man diesen aufwand auch benötigt um wirkliche aussagen zum machen.

    ob ok oder nicht.


    ihr glaubt doch nicht, die firmen würden dann nicht mehr die teueren bauteiletester benutzen,

    wenn es so preiswert gehen würde.


    ich wollte nur sagen, nach dem test einlöten, ohne es mit einem sockel,

    in echtzeit, in der entsprechenden schaltung auch noch zu testen, würde ich nicht machen.


    wenn aber slabbi das in seiner anleitung alles erklärt, dann ist es doch auch nicht sein problem

    und ihr müsst nur seine anleitung durchlesen und selbst entscheiden ob es so ok ist.

    ich werde mir mal, wenn ich ruhe habe, die anleitung auch durchlesen.


    gruß

    helmut