Retro Chip Tester Pro vom 8Bit-Museum.de (vormals "SRAM/DRAM-Tester")

    das Phänomen hab ich ja hier auch ..mein RCT prüft einen ganz bestimmten D-Ram im F-Bereich immer mit Fehler - der gleiche IC wird aber mit dem RCT von Richi als OK getestet ..

    setz ich diesen speziellen Ram in einen C64, so funktioniert er erstmal ...aber so nach ca. 20min. bekomme ich plötzlich Fehler, die immer häufiger werden ....z.B. wenn man BubbleBobble spielt

    gleicher C64 mit anderen Speichern: keine Fehler ...auch nach Stunden nicht


    kann also gut sein, dass du deine Ali-Speicher mal einem echten Stresstest unterziehen musst ...sehr gut is da z.B. eine Endlos-Demo von Booze-Design ...die holen echt ALLES raus, was der C64 so zu bieten hat.. ;)

    ich bin signifikant genug:razz:

    An 2-3 defekte Bausteine hätte ich durchaus Interesse. Das sind wieder China-TMS, die würde ich gerne mal öffnen.

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    Ja genau, die Chinesen beschriften wohl alle recycelten 4116 bunt gemischt von allen Hersteller mit TI-TMS4116. Auf die angegebene Zugriffszeit verlasse ich mich eh nicht. Die Bausteine sind aber im Regelfall o.k. und das Geld für die defekten bekommt man ja mit solchen Fotos zurück.


    Ich schick Dir die Defekten zu.

    Zitat von slabbi

    An 2-3 defekte Bausteine hätte ich durchaus Interesse. Das sind wieder China-TMS, die würde ich gerne mal öffnen.

    wie öffnest du die?


    gruß

    helmut

    Zitat von axorp

    wie öffnest du die?

    Kommt auf die ICs an. Manchmal hilft ein Dremel. Sehr gut geht auch Heißluft und dann einfach brechen.

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    Zitat von slabbi

    Kommt auf die ICs an. Manchmal hilft ein Dremel. Sehr gut geht auch Heißluft und dann einfach brechen.

    danke, so habe ich es damals auch gemacht.
    die keramik ics, mit dem deckel, gehen sehr einfach auf, so habe ich viel, die ich mehrmals hatte, geöffnet und gesammelt.

    gruß
    helmut

    Zitat von slabbi
    Zitat von axorp

    wie öffnest du die?

    Kommt auf die ICs an. Manchmal hilft ein Dremel. Sehr gut geht auch Heißluft und dann einfach brechen.

    Zeig doch mal ein offenes IC :thumbup: wie sieht das denn aus . ich habe hier auch noch ein paar defekte die man sich von innen anschauen kann ;)


    Gruß Martin

    Nur auf die Schnelle zwei Handy-Fotos:


    Heißluft und aufgebrochen:


    Dremel:


    Hier ein TMS unter dem Mikroskop:

    AliExpress: Fake TMS4116 aus China – 8Bit-Museum.de

    Leider hat das Die etwas gelitten.

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    nachdem wir auf der CC 3 unterschiedliche Modell des RCT in der Repa-Ecke am Start hatten - und tatsächlich gerade just zu diesem Moment ein defektes D-Ram (4146) auftauchte muss man leider sagen:


    2 der 3 Tester erkannten den Fehler (der tatsächlich vorhanden ist) leider nicht korrekt - lediglich der Tester von Richi hat ihn als Fehlerhaft markiert

    die Geräte von Toast_r und Toshi haben leider versagt ..bzw. erklärten den defekten Ram für OK - scheint wohl "statisch" noch zu funktionieren

    ich bin signifikant genug:razz:

    Zitat von Shadow-aSc

    3 unterschiedliche Modell des RCT in der Repa-Ecke am Start hatten

    gibt es verschiedene modelle?

    der rct macht ja wohl (fast) alles über die i/o portpins.

    und die atmegas sind cmos pegel kompatibel und nicht ttl pegel kompatibel.


    so erkennt er ein low nicht nur bis max. 0,8V als korrekt, sondern auch noch bis 1,5V als korrekt
    und ein normales ttl würde da aber schon spinnen.

    und einen high pegel erkennt er garantiert erst ab 3V aber ein ttl high signal ist schon ab 2V gültig.


    da der atmega port hochohmiger ist, als ein normaler ttl-eingang, belastet er auch die signale, während dem testen,

    nicht so wie ein ttl-ic. so kann es auch sein, das ein ic sich ganz anders am atmega dann verhält.

    besonders auch dann, wenn der atmega auch noch die versorgungsspannung über einen portpin liefern muss.

    gruß
    helmut

    nein - schon auch unterschiedliche Hardware - Versionen - Toshi hat noch den mit den Schaltern:


    ..Rev. 7 - oder so


    aber slabbi : bitte nicht falsch verstehen: das soll hier KEIN RCT-Bashing werden - ich finde das Teil Super! ..und ich verwende ihn sehr gerne und oft

    ..ist aus meinem Hobby-Bereich gar nicht mehr wegzudenken!


    ich wollte nur nochmal drauf aufmerksam machen, dass natürlich die Ergebnisse JEDES Messgerätes - egal welcher Art erstmal noch richtig interpretiert werden müssen und ggf. angepasst an die jeweilige Situation einzuschätzen sind ;)


    Wer viel misst, misst Mist! 8o

    ich bin signifikant genug:razz:

    Zitat von Toast_r

    Auch die beiden TTL ICs, die vom RCT als OK getestet wurden, in der jeweiligen Schaltung aber nicht funktionierten,

    das waren D-Ram ..und ich weiss nicht, wo sie geblieben sind - hast du die vielleicht eingepackt?

    (das waren die beiden NEC mit - 12 hintenraus)

    ich bin signifikant genug:razz:

    Also ich habe neben den DRAM ICs einen 74LS166 und einen 74LS251 in Erinnerung, die in der Zielschaltung nicht funktioniert haben und vom RCT als OK getestet wurden.

    Nach Austausch des ICs durch einen "neuen" funktionierte die Zielschaltung dann.


    Toast_r hast Du die beiden ICs gesichert?

    Telex 563140 goap d

    Dieses Thema wurde hier doch schon X mal diskutiert.



    Ein DRAM Tester wird nie perfekt sein.

    Denn das Ergebnis ist immer für bestimmte Situationen "falsch".


    Wenn ein DRAM Tester auch die Hardware Spec testen soll, dann kostet das Teil mehrere K, und niemand hier würde das zahlen wollen.



    Natürlich ist es ein einfacher Tester, einfach und preisgünstig!

    Das war doch hoffentlich jedem klar.


    Der Tester testet, ob sich das DRAM wie ein dynamischer RAM verhält.

    Ob sich jede Speicherzelle ansprechen lässt und unabhängig ist von den anderen Speicherzellen.


    Man kann damit feststellen, ob das Ding prinzipiell funktioniert.

    Ob es auch in seiner Zielhardware funktioniert ist damit nicht bestätigt.

    Das muss man heraus finden, indem man den Chip in der Ziel HW testet.




    Für mich ist der Tester gut genug!

    Es bietet für mich eine grobe Erkennung ob ein Chip läuft oder nicht.


    Die Chips die beim Test durchgehen, die müssen sich dann in der Ziel Hardware natürlich bewähren.

    Die Firmware der Schalterversion ist leider etwas out-of-date. Gerade die Timings der DRAMs wurden mehrfach optimiert.


    Shadow-aSc Alles gut ;) Der RCT kann Fehler in der Speichermatrix und des Adressdekoders sowie funktionale Fehler sehr zuverlässig erkennen. Das sind auch die Fehler, die am häufigsten auftreten. Was technisch mit der Hardware nicht möglich ist - und was ich auch ausführlich beschrieben habe - sind Probleme mit Pegeln oder des Timings. Gerade bei den Pegeln spielen Bauteiltoleranzen eine große Rolle, da machen 450 Ohm oder 490 Ohm als Schutzwiderstand schon mehrere mV Unterschied aus, die beim Vergleich von RCTs dann zum Tragen kommen. Die Hardware des RCT ist nicht kalibriert, so dass man im Grenzbereich unterschiedliche Ergebnisse bekommen kann.


    Zwei einfache Beispiele:

    1) Ein RCT mit 1k Ohm Schutzwiederständen wird einen 7496 _immer_ als defekt anzeigen, ein RCT mit 470 Ohm Schutzwiederständen wird ein korrektes Ergebnis liefern. Durch Alterungseffekte wird der 7496 anstelle der 8mA jetzt vielleicht 8,5mA an PE benötigen und dann wird auch dieser RCT den IC als fehlerhaft zurückweisen. In einer Schaltung (ohne Strombegrenzung) kann der IC aber noch fehlerfrei laufen.

    2) Es wird ein 74121 mit dem Multivibrator-Adapter getestet. Auf dem einen RCT werden 200us, auf einem anderen 290us angezeigt. Damit ist einer der RCTs aber nicht defekt, sondern auf der Adapterplatine befinden sich Kondensatoren, die auch schon einmal (je nach verwendeten Typ) 50% Toleranz haben können und damit das Ergebnis beeinflussen. Aus diesem Grund habe ich diese Tests auch nicht als OK/NOK implementiert, sondern zeige die gemessene Werte an.


    Bei Logik-Bausteine kommt hinzu, dass diese sehr schnell betrieben werden können. Theoretisch müsste man für jeden Baustein von jedem Hersteller in jeder Technologie die vorgegeben Grenzfrequenzen laut Datenblatt testen. Das ist mit einer 16 MHz MPU schlicht nicht möglich (ich kenne auch keinen Tester unter 10k EUR, der das kann). Ab der v.23beta3 sind jetzt zumindest endlos Tests möglich, die mit der maximal möglichen Geschwindigkeit durchgeführt werden. Mit der 16MHz MPU sind dann Tests mit >100kHz möglich, an die 30 oder 40 MHz die einige Bausteine beherrschen, kommt man damit natürlich nicht ran. Damit können aber wieder ein paar Fehler mehr entdeckt werden.


    Toast_r Verbessert wird der RCT ständig. Die Hardware ist halt limitiert, will man die Kosten nicht ins unendliche treiben. Wichtig ist die korrekte Interpretation der Ergebnisse. Z.B. bei Speichertests:

    a) Fehler an immer gleichen Position (Pattern oder Mach Test) -> mit Sicherheit ein Fehler in der Speichermatrix

    b) Fehler an immer gleichen Position (Zufallstest oder March Test) -> mit Sicherheit ein Fehler im Adressdekoder

    c) Fehler an verschiedenen Positionen -> Vermutlich Probleme mit Pegel oder Timing

    Das, was der RCT bei einem Speichertest gelesen hat, kann auf SD Karte gespeichert werden. Damit kann man schon sehr gut herausfinden, was dem IC tatsächlich fehlt.


    Ich habe inzwischen eine beachtliche Sammlung an Speicher- und Logikbausteinen (auch sehr viele mir unterschiedlichen defekten) und daran prüfe ich die Testroutinen regelmäßig. Wenn irgendein IC auffällt, schaue ich mir diesen gerne an, um die Tests weiter zu verbessern.

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    Mir ging es um die beiden erwähnten TTLs, ein 74S166 und ein 74LS251. Die habe ich mitgenommen, in der Hoffnung auf Erkenntnisgewinn.

    Daß die vom Tester als OK erkannt werden, obwohl die im Zielsystem nicht funktionieren, ist schon eines weiteren Blickes wert, denke ich.

    +++ ATH

    Zitat von Diddl

    Ein DRAM Tester wird nie perfekt sein.

    Denn das Ergebnis ist immer für bestimmte Situationen "falsch".

    Ack. Ein wesentlicher Punkt wird gerne übersehen:


    Zitat von Toshi

    Also ich habe neben den DRAM ICs einen 74LS166 und einen 74LS251 in Erinnerung, die in der Zielschaltung nicht funktioniert haben und vom RCT als OK getestet wurden.

    Nach Austausch des ICs durch einen "neuen" funktionierte die Zielschaltung dann.

    Der RCT liefert dem IC eine fast perfekte Umgebung, Im Idealfall schöne glatte 5V und ohne Störungen durch benachbarte Bausteine. Fast perfekte Rechtecksignale ebenfalls ohne Störungen. In einer realen Schaltung muss sich dann der IC überhaupt nicht mehr wohlfühlen.

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    Stimmt. Ich habe ab der1.2i die Schutzwiderstände von 1 kOhm auf 470 Ohm erniedrigt. Das war dem Umstand geschuldet, dass einige Logik-Bausteine intern mehrere Gatter parallel betreiben und daher einen höheren _Eingangs_strom benötigen (meistens Zähler, die dann z.B. drei Resets gleichzeitig treiben).


    Die Ausgänge werden durch den ATmega kaum belastet. Damit kann ein IC mit defekten Ausgangstreiber im Test noch als OK durchgehen, aber in einer realen Schaltung, wo dieser mit mehren mA belastet wird, versagen. Diese Fehler kommen vor, aber nach meinen Erfahrungen, relativ selten.


    I.d.R. haben TTL Bausteine schon einen Ausgangspegel von >4v (einige ältere auch nur >3.5v). Bei einem Ausgangspegel von 2.7v muss der ATmega passen und wird vermutlich diesen nicht mehr als ein H-Pegel erkennen ("vermutlich", weil das halt nicht sicher ist, der Übergang ist halt fließend), allerdings sind 2.7v noch in der Spezifikation und damit der IC streng genommen i.O. Oder anders ausgedruckt: Hier liefert der RCT u.U. falsche Ergebnisse. Ob es aber
    Sinn macht diesen IC noch zu verwenden, ist eine andere Frage.


    Diese Probleme sind aber bei jedem Gerät vorhanden.


    Diskussion zum Thema Logik-Tests (der RCT kann den 7493 übrigens testen ;)):

    TL866 Testing TTL 7493 - Page 1


    Und zum Thema Signalpegel im Handbuch Kap. 11.3.1:




    Das Kapitel 11 beschreibt noch viele weitere mögliche Probleme. Leider schweigen sich viele Hersteller darüber aus. Auf YT gibt es etliche Berichte, auch über "teure" Tester, die zerrissen werden, weil sie ein Ergebnis falsch anzeigen. Dabei liegt das Problem nicht wirklich am Tester, sondern meistens an fehlender technischer Information.

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    2 Mal editiert, zuletzt von slabbi ()

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    Zitat von Toshi

    Toast_r Erinnere mich nicht mehr genau, hatten wir auch der CC nicht auch den Fall der als "defekt" getesteten ICs die aber ok waren in der Schaltung?

    Kann durchaus passieren, z.B. bei zu niedrigen Ausgangspegeln, die der ATmega nicht mehr als H erkennt.

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    Zitat von Toshi
    Zitat von Toast_r

    Zumindest ich hatte so einen Fall nicht.

    Shadow-aSc vielleicht?

    nö - andersrum - der RCT sagt: OK, aber im Board zeigte er mir dann zu wenig Speicher an


    bzw. einen D-Ram hab ich, da zeigt nur mein Tester (das is noch das Board ohne SD-Karten-Pins) das IC im letzten Test (rnd ) als fehlerhaft - Richi `s Tester sagt OK ...das IC funktioniert ziemlich gut - bis ungefähr 30min. nach Start ...dann kommen die Fehler

    ich bin signifikant genug:razz: