In der nächsten Beta-Version wird es eine Verbesserung bei den SRAM- und DRAM-Tests geben.
Die Tests werden bei bestimmten Fehlern schnellere und detailliertere Ergebnisse liefern. Beispielsweise wird zunächst der Adressdecoder getestet und fehlerhafte Adressleitungen angezeigt. Bisher gab es nur eine Fehlermeldung am Ende aller Tests.
Wer schon eine Entwicklerversion ausprobieren möchte, kann sich gerne bei mir melden (diese Version hat aber noch keinen Beta-Status).
Es wird bei diesem Fehlertyp damit sehr viel schneller abgebrochen.
Verwendung:
Um die Verbesserungen zu aktivieren muss in der Konfiguration „Chip detect: 2“ eingestellt werden (Standard: 1).
Bei einem Fehler im Adressdecoder wird ein Hexadezimalwert angezeigt, wobei jedes Bit einer Adressleitung zugeordnet ist. Wenn also Bit 0 gesetzt ist, ist A0 fehlerhaft, bei Bit 1 = A1 usw. Bei DRAMs wird in den unteren Bits die Zeilenadressen und in den oberen Bits die Spaltenadressen ausgegeben.
Beispiel:
SRAM mit Ausgabe "010080": Bit 7 und Bit 16 sind gesetzt, also sind A7 und A16 fehlerhaft.
DRAM (4116) mit Ausgabe "00102“ bedeutet (Bit 0–6 für Zeilen/RAS, Bit 7–13 für Spalten/CAS): Bit 1 ist gesetzt = A1 mit RAS, Bit 8 ist gesetzt = A1 mit CAS.