Die Frage ist eben, wie groß die Schnittmenge zwischen PDP-8- und Chip-Tester-Besitzern ist.
Ich habe keinen Chip-Tester und würde im Moment dazu tendieren, den FlipChip-Tester aufzubauen so wie er ist.
Hast du mal in dem von gnupublic verlinkten YT-Video geschaut, welche Analysemöglichkeiten die bestehende Raaspi-Software bei defekten Modulen bietet? Könnte das der Chiptester in dieser Form bieten?
Der RCT macht nichts anderes. Es werden Vektoren durchprobiert und bei einem Fehler die Stelle angezeigt. Beim den Modulen liegt noch eine Tabelle dahinter, die dann die Ausgabe in IC und Pin übersetzt.
Letztes bietet der RCT nicht, die Ausgabe wäre dann z.B.
010011101HLLH^1001
Das "^" wäre dann der Fehler, dass ein High erwartet wurden wäre.
Man könnte die Tabelle dazu packen und mit
"14 U2 Pin 3" (Fehler an Pos 14 = IC U2 Pin 3)
übersetzen.