Retro Chip Tester Pro vom 8Bit-Museum.de (vormals "SRAM/DRAM-Tester")

Jetzt wird bei einer Statusänderung die Abfrage aktualisiert.

Wenn ich die jetzt mit rot, grün, orange beschriftet hätte, hättest du die dann alle einfarbig gemacht?

Alternativ hättest du auch noch Infrarot nehmen können. Und eine LED fehlt noch

Zitat von rafi

slabbi , ich habe hier noch den alten v7 Tester, wird es für den eigentlich auch noch mal eine neue Firmwareversion geben?

Oder muss ich mir überlegen Hardwaremäßig upzudaten.

Ich wollte die aktuellen Features an die v7 übertragen. Leider fehlen der v7 einige Eigenschaften, so dass ich diese nicht 1:1 übernehmen kann. Ich müsste alle ICs (Speicher, Logik-ICs) einzeln heraussuchen, die auf der v7 nicht mehr laufen. Also wird es vermutlich dafür keine Updates mehr geben. Das, was die Hardware hergibt, kann der Tester bereits.

Zitat von Shadow-aSc

slabbi: hast du das Video gesehen?

wie kann das sein, dass auf 2 (fast) baugleichen Testern ein Dram so unterschiedlich abschneidet?

Noch nicht, der Server ist aktuell lahm.... Ich speichere das Video gerade.

Jetzt konnte ich das Video sehen.

Ohne den IC selbst einmal unter dem Oszi gehabt zu haben, kann ich nur mutmaßen (ich nenne den ersten Tester "A" und "B" den, der den Defekt meldet).

Durch Tester A wissen wir, dass das IC i.O. ist. Mit dem 0/5/A/F-, Count-Test werden nicht viele Fehler erkannt, so werden defekte Adressleitungen/-treiber im IC nicht erkannt. Der Zufallstest erkennt diese aber i.d.R., also schließe ich mal daraus, dass die Speichermatrix und deren Ansteuerung i.O. ist (der March-Y oder March-U Test würde das zuverlässiger bestätigen).

Tester B erkannt die Testmuster 0101, 1010, sowie 0000 korrekt. Er hat aber Probleme, wenn alle Datenleitungen ein High führen (also 1111) und erkennt ein dann "0000". Wenn wir die Tests untereinander vergleichen, dann benötigt der Speicher beim F-Test etwas mehr Strom.

Es gibt jetzt jetzt mehrere Möglichkeiten (ab hier muss ich ohne mir den IC angesehen zu haben leider mutmaßen):

Mögliches Problem 1: Die Spannungsversorgung

Durch die etwas erhöhte Stromaufnahme, fällt an dem Transistor, der Vcc schaltet, eine geringfügig höhere Spannung ab. Es reicht hier schon 1/10 V und man hat u.U. ein solches Ergebnis. Ich habe z.B. ein 6540 von MOS, das sich nicht mit 4.8V auslesen lässt (Tester per USB am Computer), mit 4.9x V (Tester am USB Netzteil) lässt er sich problemlos auslesen. Der geringe Spannungsabfall durch die erhöhte Stromaufnahme ist nicht zu vernachlässigen.

Mögliches Problem 2:

Im Handbuch in Kap. 9.1/9.3) beschreibe ich die Grenzen eines Universal-Testers. Der ATmega benötigt ca. 3V um ein logisch High sicher zu erkennen, TTL garantiert aber nur 2.4V (wobei es i.d.R. über 4v sein sollten). Jetzt gibt es aber sowohl beim ATmega, als auch bei der Spannungsversorgung der beiden Tester Toleranzen: Liefert der IC irgendetwas um 3V, kann der eine ATmega das noch als 1, der andere ggf. als 0 erkennen. Auch hier kommt es wieder auf jedes Zehntel Volt an. Hier sieht man, wie unterschiedlich die Signale sein können:

Probiert doch einmal folgendes aus:

a) Verbindet Pin 9 des ICs direkt mit Vcc (an der Liste zwischen Display und DC/DC Modul, nicht das geschaltete [Vcc]). Wenn der Test damit durchläuft, ist der Spannungsabfall an dem Transistor für Vcc zu hoch (Sind die Transistoren aus derselben Quelle? Bei Ali gibt es schon mal Fakes von den MPSA).

b) Wenn ihr auch Toleranzen durch andere Bauteile ausschließen wollt, könnt ihr zusätzlich zu (a) eine stabilisierte Spannung von 5V über die Schraubterminals einspeisen).

Damit wären Probleme durch Abweichungen in der Spannungsversorgung ausgeschlossen.

Ihr könnt dem IC noch etwas unter die Arme greifen, wenn es die notwendigen Ausgangspegel nicht mehr schafft. In vielen Schaltplänen findet man an Dout zusätzliche Pullups oder einen Treiber (gerade bei den 4164 und 41464). Schaltet bitte einmal die Pullups für DRAMs ein (ich habe die standardmäßig aus). Wenn der Test damit klappt, dann liegt der IC bei den Ausgängen im Grenzbereich. Die Pullups haben ca. 10-20k Ohm, beeinflussen ICs mit "normalen" Pegeln nicht.

Mögliches Problem 3 (hatte ich in diesem Zusammenhang bisher noch nicht, ist aber theoretisch auch möglich):

Das Signal am Ausgang eines Speicherbausteins ist i.d.R. nicht stabil bei z.B. 4V (siehe Bilder oben). Je nachdem, wann man guckt, kann es über oder unter der magischen Grenze liegen, wo eine 0 oder 1 erkannt wird. Die oben erwähnten Pullups können auch hier helfen.

Sind die Fuses bei B auf "Full Swing Oscillator" gesetzt? Wenn nicht, bitte ausprobieren. Wenn der Quarz nicht stabil läuft, können hier starke Timing-Probleme auftreten. Wir reden immerhin von Zeiten im Nanosekunden-Bereich. I.d.R. hat man aber Abstürze, wenn der Quarz Probleme macht.

Ich denke, dass dieses IC ein schönes Beispiel für einen "Grenzfall" darstellt. 99% der ICs lassen sich problemlos in Gut oder Schlecht einordnen (bei Fehlern nur in der Speichermatrix zu fast 100%). Leider halten sich 40-50 Jahre alte ICs eben nicht mehr unbedingt die Spezifikation. Bei den wenigen Grenzfällen gibt es halt mehrere Gründe, warum Tests abweichen.

Bei zwei Testern mit demselben IC sind es vermutlich die Toleranzen beim Tester selbst durch die verwendeten Bauelemente (nicht umsonst werden Messgeräte regelmäßig geeicht und verwenden besonders hochwertige Bauelemente und selbst dann wird man nie zwei identische Ergebnisse bekommen). Allerdings gibt es auch technische Grenzen (siehe auch Kapitel 9.3) durch unterschiedliche Pegel.

Der obige IC wird vermutlich noch eine Weile in einem Rechner funktionieren. Durch das "false negative" bei Tester B würde der als defekt aussortiert werden, was als Grenzfall auch akzeptabel wäre. Wird ein IC als o.k. ausgegeben, dass ist der auch sehr wahrscheinlich i.O.. Wird ein IC als defekt ausgegeben, dann gibt es die "Grenzfälle" die evtl. noch laufen würden, aber als defekt ausgewiesen werden.

Obiges - wie gesagt - ohne den IC angeguckt zu haben.

Zitat von klaly

Vielen Dank slabbi,
für die sehr ausführliche Erklärung.

Gerne. Wenn Tester B das IC mit aktivierten Pullups testen kann, werde ich die wohl standardmäßig aktivieren.

Bei SRAMs habe ich die sowieso eingeschaltet, da es hier viele ICs mit Open Collector Ausgängen gibt.

Das Layout ist grundsätzlich identisch. Die neueren Tester haben den ISP Bus für die SD Karte, der aber nichts mit einer Messung zu tun hat.

Da bringst du mich aber auf noch einen möglichen Unterschied:

Ist bei Tester A (der ohne Fehlermeldung am Ende) der SD Kartensupport eingeschaltet?

Wenn ja, dann wird der Speicher etwas langsamer getestet (der Testzyklus bleibt zwar gleich, aber die Zugriffzeit ist langsamer, zwischen zwei Speicherzugriffen hat das IC ca, 120 ns mehr Zeit). Wenn ein IC älter ist, wird es auch oft langsamer. Hier könnte es sein, dass Ausgangssignale erst später anliegen oder es mehr Pause zwischen zwei Zugriffen braucht. Evtl. noch einmal nachsehen, ob die Einstellungen in der Konfiguration gleich sind.

Springe mal ans Ende des Menüs (bis SEARCH erscheint, dann zwei Schritte weiter zu CONFIG).

In Kap. 6.13 sind alle Optionen aufgeführt.

Das hat jetzt zwar nichts mit dem RCT zu tun, aber vielleicht doch für den einen oder anderen interessant:

Den 6502 NOP-Generator habe ich etwas aufgebohrt. Man kann jetzt nicht nur die 6502 und W65C02 damit "testen", sondern auch die 6502C (Sally).

Hierzu sind mehrere Jumper vorhanden:

JP1: Legt Pin 1 auf Vss (i.d.R. nicht erforderlich, da auch auf Pin 21)

JP2: Legt BE auf Vcc (Bus Enable beim W65C02)

JP3: Legt /HALT wahlweise auf Vcc oder GND (für Sally, hiermit kann man im Tester unterscheiden, ob es eine 6502 oder Sally ist).

Die Gerber-Dateien sind noch heute Abend online.

Schlechtes Timing...

Ist Pfingsten... Hatte etwas Langeweile

Der ist so frisch, den muss ich erst selbst noch bestellen.

Dateien sind jetzt online.

Zitat von Shadow-aSc

..so - und ich mach jetzt gleichmal einen Verkaufs-Post im Suche-Biete-irgendwas Bereich:

Verkaufe "uuuralten" NOP-Generator für 6502 - Design ist noch von anno dazumal .etc. - 5€ - Freundschaftspreis

Du kannst den "alten" doch einfach umbauen. Pin 35 (aktuell nicht angeschlossen) einfach mit 10k Ohm und einem Schalter auf Masse oder Vcc.