Da ich einen alten Apple][+ DIY Clone auf Upper/Lower Case aufrüsten wollte, stellte ich beim einsetzen eines diesbezüglich gebrannten Upper/Lower Case Roms fest, dass die Adressierung des CharGEN Roms (obwohl schon vom Typ 2716) auf meinem Board offensichtlich nicht dem Standard entspricht (nach ersten Analysen unterscheidet sich die Adressierung geringfügig). Um zur weiteren Analyse den Inhalt des vorhandenen ROMs (NEC D2716D aus ´81) zu sichern und gleich gegen eine CMOS Variante (27C16) zu ersetzen, musste ich leider feststellen, dass die Kopie der Daten nicht fehlerfrei war. Erst nach einigen weiteren Fehlversuchen ist mir letztlich auch aufgefallen, dass das Problem seine Ursache beim Auslesen des ROMS auf meinem TL866A hat (der aber sonst fehlerfrei funktioniert). Ein Verify direkt nach dem Auslesen zeigte bereits zwischen 9 und 21 Differenzen auf.

Im Mainboard funktionierte das ROM allerdings immer wieder fehlerfrei und ohne Ausfälle.

So etwas ist mir bisher noch nicht passiert, aber man lernt ja immer noch dazu. Lange rede, kurzer Sinn:

Als Fehlerursache habe ich das alte EPROM ausgemacht. Offensichtlich ist die Stromaufnahme höher als normal, was sich auch in der erhöhten Verlustwärme anzeigt. Die erhöhte Stromaufnahme führt deshalb auch offensichtlich zu folgendem Phänomen: Betrieb im Mainboard -> fehlerfrei; aber Auslesen im TL866 nie fehlerfrei möglich. Ich nehme an, dass dieses ROM im TL866 zu Störungen auf dem Powerrail der Versorgungsspannung führt (durch eine Strombegrenzung), welches in der Folge dann ein sicheres Auslesen verhindert. Auf dem Mainboard hingegen gibt es keine Strombegrenzung.

Aufgrund des Tips eines Freundes konnte ich das Problem dann aber doch noch wie folgt lösen:

1. Leere bootfähige Dosdiskette erstellen
2. Mit den fehlerhaften Daten eine neues CharGen ROM brennen und gegen das bisherige problematische ROM tauschen. Die Zeichendarstellung hatte nun zwar ein paar Pixelfehler, aber man konnte alles noch lesen
3. ROM E0 entfernen und das Problem-ROM (CharGEN Rom) dort einsetzen
4. Booten. Nach dem Booten landen wir ggf. direkt im Monitor, da das E0 Rom ja fehlt, bzw. einen inkorrekten Inhalt aufweist (ist ja jetzt das CharGEN ROM). Mit Ctrl-C + Return zurück an den Basic Prompt.
5. Am Basic-Prompt: BSAVE TEST.BIN, A$E000, L$7FF eingeben und bestätigen. Der inhalt des CharGen ROMs, das gerade im Steckplatz des E0-Roms steckt wird auf Diskette geschrieben.
6. Ausschalten. Alles wieder dahin wo es hin soll. E0 Rom wieder zurück und CharGEN Rom wieder in seinen steckplatz- das temporäre ROM mit den Pixelfehlern (siehe 2.) zur Seite legen oder gleich löschen.
7. Neu booten und ADTpro laden, um das image der Diskette auf der sich TEST.BIN befindet zum PC zu übertragen
8. Mit Ciderpress das Image öffnen und die BIN-Datei extrahieren
9. Mit der BIN Datei ein neues Eprom brennen und gegen das fehlerbehaftete tauschen - voila, das wars!

Falls jemand auch so einen Clone mit einer abweichendenCharGEN Adressierung besitzt (die gibt es offenbar öfter als man denkt), findet ihr im Anhang das verifizierte BIN-File des CharGen Roms. Aktuell leider nur die UpperCase Variante, aber besser als gar keine Darstellung, wenn das ROM mal sterben sollte.

Zitat von Toast_r

Interessante Geschichte. Mich würde da die Stromaufnahme des EPROMs interssieren.

Nebenbei erinnerte mich das an den Tip, EPROMs, die beim Auslesen inkonsistente Daten liefern, mit verminderter Betriebsspannung zu lesen. Einfach VCC über eine Diode anlegen, womit die Spannung um 0,7V sinkt. Das soll schon oft geholfen haben, doch noch die korrekten Daten auszulesen.

Um die effektive Stromaufnahme zu messen, müsste man zuerst noch einen Adapter bauen. Glücklicherweise lässt aber der TL866 eine Absenkung/Anhebung von VCC um 0,5V Schritte bereits zu. Habe deshalb das Problem-Rom gerade nochmal mit verschiedenen VCCs zwischen 4.0-5.5 gelesen.

Ergebnis: mit Verringerung der Versorgungsspannung nehmen die Lesefehler deutlich zu, was dem Tip mit der Absenkung in meinem Falle wiederspricht. Bei 4 Volt VCC ist quasi nichts brauchbares zu lesen. Bei 4.5 Volt ca. 31 Fehler. Bei 5V ca. 19 Fehler. Bei VCC von 5.5 Volt hatte ich nur noch 3 Differenzen zum ursprünglichen Dump. Höher als 5,5Volt wollte ich aber nicht gehen, da ich das Surren der induktivitäten im Schaltregler des VCC (im TL866) bei 5,5V schon deutlich gehört habe.

Zitat von funkenzupfer

Zitat von db7is

5. Am Basic-Prompt: BSAVE TEST.BIN, A$E000, L$7FF eingeben und bestätigen. Der inhalt des CharGen ROMs, das gerade im Steckplatz des E0-Roms steckt wird auf Diskette geschrieben.

Woher weisst du denn, ob das EPROM im Rechner fehlerfrei gelesen wurde?

Bei einem CharROM sieht man seltene Pixelfehler nicht immer.

Ich würde wenigstens das EPROM mehrfach auslesen und später vergleichen.

Ja, das ist in der Tat und ganz nüchtern fachlich betrachtet ein berechtigter Einwand. Natürlich kann man durch das einmalige Lesen keinen Rückschluß ziehen, dass ein auf solche Weise gezogener Dump verifiziert sei. Aber: brennt man diesen Dump nun, wie bei meiner Vorgehensweise, in ein neues Eprom und überprüft die Konsistenz der ausgegebenen Zeichensätze, sollte dies als quasi-objektiver Beleg für ein erfolgreiches Auslesen ausreichen.

Natürlich kann aber auch eine solche Vorgehensweise (optische Überprüfung des Ergebnisses zur Validierung) nicht per Se als fehlerfrei gelten. Ich habe den ausgegebenen Zeichensatz aber mehrfach untersucht und keinen fehlenden oder überzähligen Pixel gefunden.

Ja, das ist korrekt, sorry, werde das korrigieren