Retro Chip Tester Pro vom 8Bit-Museum.de (vormals "SRAM/DRAM-Tester")

  • Und wieder ein kleines Update für die kommende v23:

    - Loop-Testing (auch beliebig bis zu einem Abbruch)

    - CDP1822 können getestet werden bzw. 2101 Tests optimiert.

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  • Update:


    Die CRC-Datenbank wurde von MAME 0.233 auf MAME 0.246 aktualisiert.

    Weiterhin sind alle RCA Studio 2 ROMs enthalten.

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  • Hallo,


    ich möchte dem RCT auch Nibble Mode DRAMs zu erkennen beibringen.

    Hätte jemand vielleicht einen 41257 für mich übrig? Z.B. TMM41257 oder ähnlich?


    Ich habe in meiner Sammlung tatsächlich keinen einzigen DRAM, der den Nibble Mode unterstützt. :(

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  • Ich hätte NEC D41257C-15 da

  • Vielen Dank Ronny.


    Es gibt wieder ein neues Feature:


    Pagemode


    Nibble Mode


    Pagemode & Static Column Mode


    :)

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  • Ich habe gerade zwanzig 4464 RAM chips (von Ali Express gekauft, zwei verschiedene Anbieter, zwei verschiedene Hersteller) mit dem RCTP getestet und jeder einzelne hat den rnd(16) Test nicht bestanden. Kann das wirklich sein, dass ich so viel Pech hatte und jeder Chip eine Niete ist, oder gibt's da noch einen anderen Grund?

  • Kann ich pauschal nicht beantworten.


    Möglichkeiten, dass alle anderen Tests funktionieren und nur der Zufallstest aussteigt:

    Eine Adressleistung ist defekt (intern immer Low, High oder Kurzschluss mit einer anderen Adressleitung). Diesen Fehler finden normale Pattern nicht.

    oder

    Der Zufallstest stresst den Speicher sehr viel mehr als normale Pattern. Die 4-bittigen Speicher brauchen auch mehr Strom. Hast du den Jumper für den Decoupling-Kondensator gesetzt (oder wahlweise einen 100nF Kondensator zwischen Vcc und GND mit eingeklemmt)?

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  • Hab gerade mal den 100nF Kondensator eingeklemmt und ein paar ICs probiert, es gibt aber weiterhin den Fehler beim rnd Test.

    Alle bisherigen an anderen Chips durchgeführten Tests scheinen korrekte Resultate erbracht zu haben, daher möchte ich eigentlich glauben, dass im RTCP selbst kein Fehler vorhanden ist.

    Gibt es die Chance, dass die RAM Chips in einem C64 oder CPC 6128 trotzdem korrekt funktionieren?

  • Kann sein, ausprobieren.

    K.A., was du von AliExpress bekommen hast. Ich behaupte mal, dass 99.9% der TMSxxx ICs Fakes sind.

    Du kannst mir gerne einen oder zwei ICs zusenden. Bei zwei ICs kann ich einen davon öffnen und mir das Die einmal ansehen.


    Ich habe auch schon zig 2532 bekommen, die tatsächlich 2732 waren.

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  • Kann das wirklich sein, dass ich so viel Pech hatte und jeder Chip eine Niete ist


    in einem Aufbaubericht zum RCT habe ich ähnliches gelesen. Anderer Typ Speicher, aber alle defekt getestet. Funktionieren in einem Computer aber ohne Aufälligkeiten. Der Blogger meint das könnte mit der Zugriffszeit der "Fake" Chips zusammenhängen.

  • Mach ich.

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  • das Phänomen hab ich ja hier auch ..mein RCT prüft einen ganz bestimmten D-Ram im F-Bereich immer mit Fehler - der gleiche IC wird aber mit dem RCT von Richi als OK getestet ..

    setz ich diesen speziellen Ram in einen C64, so funktioniert er erstmal ...aber so nach ca. 20min. bekomme ich plötzlich Fehler, die immer häufiger werden ....z.B. wenn man BubbleBobble spielt

    gleicher C64 mit anderen Speichern: keine Fehler ...auch nach Stunden nicht


    kann also gut sein, dass du deine Ali-Speicher mal einem echten Stresstest unterziehen musst ...sehr gut is da z.B. eine Endlos-Demo von Booze-Design ...die holen echt ALLES raus, was der C64 so zu bieten hat.. ;)

    ich bin signifikant genug:razz:

  • An 2-3 defekte Bausteine hätte ich durchaus Interesse. Das sind wieder China-TMS, die würde ich gerne mal öffnen.

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  • Ja genau, die Chinesen beschriften wohl alle recycelten 4116 bunt gemischt von allen Hersteller mit TI-TMS4116. Auf die angegebene Zugriffszeit verlasse ich mich eh nicht. Die Bausteine sind aber im Regelfall o.k. und das Geld für die defekten bekommt man ja mit solchen Fotos zurück.


    Ich schick Dir die Defekten zu.

  • An 2-3 defekte Bausteine hätte ich durchaus Interesse. Das sind wieder China-TMS, die würde ich gerne mal öffnen.

    wie öffnest du die?


    gruß

    helmut

  • wie öffnest du die?

    Kommt auf die ICs an. Manchmal hilft ein Dremel. Sehr gut geht auch Heißluft und dann einfach brechen.

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  • Kommt auf die ICs an. Manchmal hilft ein Dremel. Sehr gut geht auch Heißluft und dann einfach brechen.

    danke, so habe ich es damals auch gemacht.
    die keramik ics, mit dem deckel, gehen sehr einfach auf, so habe ich viel, die ich mehrmals hatte, geöffnet und gesammelt.

    gruß
    helmut

  • wie öffnest du die?

    Kommt auf die ICs an. Manchmal hilft ein Dremel. Sehr gut geht auch Heißluft und dann einfach brechen.

    Zeig doch mal ein offenes IC :thumbup: wie sieht das denn aus . ich habe hier auch noch ein paar defekte die man sich von innen anschauen kann ;)


    Gruß Martin

  • Nur auf die Schnelle zwei Handy-Fotos:


    Heißluft und aufgebrochen:


    Dremel:


    Hier ein TMS unter dem Mikroskop:

    AliExpress: Fake TMS4116 aus China – 8Bit-Museum.de

    Leider hat das Die etwas gelitten.

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  • nachdem wir auf der CC 3 unterschiedliche Modell des RCT in der Repa-Ecke am Start hatten - und tatsächlich gerade just zu diesem Moment ein defektes D-Ram (4146) auftauchte muss man leider sagen:


    2 der 3 Tester erkannten den Fehler (der tatsächlich vorhanden ist) leider nicht korrekt - lediglich der Tester von Richi hat ihn als Fehlerhaft markiert

    die Geräte von Toast_r und Toshi haben leider versagt ..bzw. erklärten den defekten Ram für OK - scheint wohl "statisch" noch zu funktionieren

    ich bin signifikant genug:razz:

  • 3 unterschiedliche Modell des RCT in der Repa-Ecke am Start hatten

    gibt es verschiedene modelle?

    der rct macht ja wohl (fast) alles über die i/o portpins.

    und die atmegas sind cmos pegel kompatibel und nicht ttl pegel kompatibel.


    so erkennt er ein low nicht nur bis max. 0,8V als korrekt, sondern auch noch bis 1,5V als korrekt
    und ein normales ttl würde da aber schon spinnen.

    und einen high pegel erkennt er garantiert erst ab 3V aber ein ttl high signal ist schon ab 2V gültig.


    da der atmega port hochohmiger ist, als ein normaler ttl-eingang, belastet er auch die signale, während dem testen,

    nicht so wie ein ttl-ic. so kann es auch sein, das ein ic sich ganz anders am atmega dann verhält.

    besonders auch dann, wenn der atmega auch noch die versorgungsspannung über einen portpin liefern muss.

    gruß
    helmut

  • nein - schon auch unterschiedliche Hardware - Versionen - Toshi hat noch den mit den Schaltern:


    ..Rev. 7 - oder so


    aber slabbi : bitte nicht falsch verstehen: das soll hier KEIN RCT-Bashing werden - ich finde das Teil Super! ..und ich verwende ihn sehr gerne und oft

    ..ist aus meinem Hobby-Bereich gar nicht mehr wegzudenken!


    ich wollte nur nochmal drauf aufmerksam machen, dass natürlich die Ergebnisse JEDES Messgerätes - egal welcher Art erstmal noch richtig interpretiert werden müssen und ggf. angepasst an die jeweilige Situation einzuschätzen sind ;)


    Wer viel misst, misst Mist! 8o

    ich bin signifikant genug:razz:

  • Ich denke, das man das als Chance nutzen sollte, den RCT weiter zu verbessern.

    Auch die beiden TTL ICs, die vom RCT als OK getestet wurden, in der jeweiligen Schaltung aber nicht funktionierten, sollten dazu herangezogen werden.

    +++ ATH

  • Auch die beiden TTL ICs, die vom RCT als OK getestet wurden, in der jeweiligen Schaltung aber nicht funktionierten,

    das waren D-Ram ..und ich weiss nicht, wo sie geblieben sind - hast du die vielleicht eingepackt?

    (das waren die beiden NEC mit - 12 hintenraus)

    ich bin signifikant genug:razz:

  • Also ich habe neben den DRAM ICs einen 74LS166 und einen 74LS251 in Erinnerung, die in der Zielschaltung nicht funktioniert haben und vom RCT als OK getestet wurden.

    Nach Austausch des ICs durch einen "neuen" funktionierte die Zielschaltung dann.


    Toast_r hast Du die beiden ICs gesichert?

    Telex 563140 goap d

  • Dieses Thema wurde hier doch schon X mal diskutiert.



    Ein DRAM Tester wird nie perfekt sein.

    Denn das Ergebnis ist immer für bestimmte Situationen "falsch".


    Wenn ein DRAM Tester auch die Hardware Spec testen soll, dann kostet das Teil mehrere K, und niemand hier würde das zahlen wollen.



    Natürlich ist es ein einfacher Tester, einfach und preisgünstig!

    Das war doch hoffentlich jedem klar.


    Der Tester testet, ob sich das DRAM wie ein dynamischer RAM verhält.

    Ob sich jede Speicherzelle ansprechen lässt und unabhängig ist von den anderen Speicherzellen.


    Man kann damit feststellen, ob das Ding prinzipiell funktioniert.

    Ob es auch in seiner Zielhardware funktioniert ist damit nicht bestätigt.

    Das muss man heraus finden, indem man den Chip in der Ziel HW testet.




    Für mich ist der Tester gut genug!

    Es bietet für mich eine grobe Erkennung ob ein Chip läuft oder nicht.


    Die Chips die beim Test durchgehen, die müssen sich dann in der Ziel Hardware natürlich bewähren.

  • Die Firmware der Schalterversion ist leider etwas out-of-date. Gerade die Timings der DRAMs wurden mehrfach optimiert.


    Shadow-aSc Alles gut ;) Der RCT kann Fehler in der Speichermatrix und des Adressdekoders sowie funktionale Fehler sehr zuverlässig erkennen. Das sind auch die Fehler, die am häufigsten auftreten. Was technisch mit der Hardware nicht möglich ist - und was ich auch ausführlich beschrieben habe - sind Probleme mit Pegeln oder des Timings. Gerade bei den Pegeln spielen Bauteiltoleranzen eine große Rolle, da machen 450 Ohm oder 490 Ohm als Schutzwiderstand schon mehrere mV Unterschied aus, die beim Vergleich von RCTs dann zum Tragen kommen. Die Hardware des RCT ist nicht kalibriert, so dass man im Grenzbereich unterschiedliche Ergebnisse bekommen kann.


    Zwei einfache Beispiele:

    1) Ein RCT mit 1k Ohm Schutzwiederständen wird einen 7496 _immer_ als defekt anzeigen, ein RCT mit 470 Ohm Schutzwiederständen wird ein korrektes Ergebnis liefern. Durch Alterungseffekte wird der 7496 anstelle der 8mA jetzt vielleicht 8,5mA an PE benötigen und dann wird auch dieser RCT den IC als fehlerhaft zurückweisen. In einer Schaltung (ohne Strombegrenzung) kann der IC aber noch fehlerfrei laufen.

    2) Es wird ein 74121 mit dem Multivibrator-Adapter getestet. Auf dem einen RCT werden 200us, auf einem anderen 290us angezeigt. Damit ist einer der RCTs aber nicht defekt, sondern auf der Adapterplatine befinden sich Kondensatoren, die auch schon einmal (je nach verwendeten Typ) 50% Toleranz haben können und damit das Ergebnis beeinflussen. Aus diesem Grund habe ich diese Tests auch nicht als OK/NOK implementiert, sondern zeige die gemessene Werte an.


    Bei Logik-Bausteine kommt hinzu, dass diese sehr schnell betrieben werden können. Theoretisch müsste man für jeden Baustein von jedem Hersteller in jeder Technologie die vorgegeben Grenzfrequenzen laut Datenblatt testen. Das ist mit einer 16 MHz MPU schlicht nicht möglich (ich kenne auch keinen Tester unter 10k EUR, der das kann). Ab der v.23beta3 sind jetzt zumindest endlos Tests möglich, die mit der maximal möglichen Geschwindigkeit durchgeführt werden. Mit der 16MHz MPU sind dann Tests mit >100kHz möglich, an die 30 oder 40 MHz die einige Bausteine beherrschen, kommt man damit natürlich nicht ran. Damit können aber wieder ein paar Fehler mehr entdeckt werden.


    Toast_r Verbessert wird der RCT ständig. Die Hardware ist halt limitiert, will man die Kosten nicht ins unendliche treiben. Wichtig ist die korrekte Interpretation der Ergebnisse. Z.B. bei Speichertests:

    a) Fehler an immer gleichen Position (Pattern oder Mach Test) -> mit Sicherheit ein Fehler in der Speichermatrix

    b) Fehler an immer gleichen Position (Zufallstest oder March Test) -> mit Sicherheit ein Fehler im Adressdekoder

    c) Fehler an verschiedenen Positionen -> Vermutlich Probleme mit Pegel oder Timing

    Das, was der RCT bei einem Speichertest gelesen hat, kann auf SD Karte gespeichert werden. Damit kann man schon sehr gut herausfinden, was dem IC tatsächlich fehlt.


    Ich habe inzwischen eine beachtliche Sammlung an Speicher- und Logikbausteinen (auch sehr viele mir unterschiedlichen defekten) und daran prüfe ich die Testroutinen regelmäßig. Wenn irgendein IC auffällt, schaue ich mir diesen gerne an, um die Tests weiter zu verbessern.

    Erklärung gem. "§ 6 Übertragung von Nutzungsrechten" Abs. (1) der Nutzungsbedingungen:

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